HORIBA熒光壽命光譜儀

HORIBA Scientific（Jobin Yvon光譜技術）作為熒光光譜儀的廠家，可以提供全套穩態、瞬態和穩-瞬態以及各種耦聯技術的解決方案。HORIBA熒光壽命光譜儀從上世紀70年代開始一直專注于TCSPC系統的開發，并始終保持著熒光系統設計和生產領域的地位。

基于四十年的壽命系統研發和生產經驗，HORIBA熒光壽命光譜儀 新一代熒光壽命測試系統DeltaFlex憑借高性能以及簡單實用的特點，賦予了TCSPC系統新的定義。

DeltaHub——DeltaFlex的核心部件

· 超短的死時間（10ns）：配合高重復頻率的激光光源和高速檢測器，可實現無損失的光子計數，達到快速采集數據和準確的分析結果。

· 超快壽命測試技術：真正實現了熒光壽命動力學測試，采集時間低至1ms，支持1ms-10,000min無間斷壽命動態監測。

新型脈沖半導體光源

DeltaFlex配置新型脈沖半導體光源作為熒光和磷光的激發光源（四大類型，百種可選），即插即用，無需校準，而且終身免維護。

其中DeltaDiode光源的重復頻率可達100MHz，是超快壽命測試的光源，同時可配置用于磷光測定的SpectraLED光源。與氙閃燈相比，SpectraLED具有265-1275nm寬波長的覆蓋范圍，以及實用方便、測試速度更快和信號無拖尾的優點。

科研級模塊化設計

在DeltaFlex系統上無需更換控制器和檢測器，即可實現11個數量級（25ps-1s）范圍內的熒光壽命測試。系統采用科研級模塊化設計，配合newest的F-Link技術，可自動識別各類部件，軟件直接接入、附件即插即用，能夠無限滿足升級需求。尤其是其中采用了壽命擬合軟件，免費開放數十種主流專業擬合功能，可獨立于儀器操作。

多種光譜儀可選，配合像差校正光柵，覆蓋200-1600nm寬光譜范圍，實現時間分辨發射譜功能，支持100條發射波長動態連續監測，軟件自動獲得衰減相關光譜參數。

熒光壽命技術是科研中強有力的工具，可廣泛用于物理、化學、材料、信息、生物和醫學等領域。

主要特點

· 超寬壽命測試范圍<25ps-1s

· 超快測試時間（低至1ms），實現動態反應分析

· 超微量樣品測試，低至1μL

· 綜合分析軟件，5指數壽命擬合

· 高穩定性設計，使用維護簡單

· 高度自動化，一鍵測量分析

· 大尺寸樣品倉設計，*的附件兼容能力

· 高性能熒光、磷光壽命測試功能

規格參數

· 基于濾光片或單色儀實現波長選擇

· 皮秒超快集成化PPD 光子檢測模塊（標配）

· 可升級NIR 檢測器（~1700nm）

· 綜合分析受命擬合軟件，開放數十種擬合功能

· 標準液體樣品架，加載溫度傳感器和攪拌裝置

· 大尺寸樣品倉，配置高效UV級光學部件

· F-Link 即插即用型交互界面

主要應用：

· FRET(Forster共振能量轉移)

· Stern-Volmer猝滅

· 稀土發光

· 時間分辨和磷光各向異性

· 分子互作，蛋白結構變化

· 太陽能材料

· 單線態氧測試

· 光物理

可選附件：

· 手動或電動偏振器

· 自動光學部件

· 紅外擴展 PPD 模塊 (如PPD-850C 或 PPD-900C)

· NIR檢測器（~1700nm）

· 固體樣品支架

· 多種控溫裝置可選

· 多種光源